电子 Mach-Zehnder 干涉仪中的计数统计与退相干跃迁
介观与纳米尺度物理
2015-07-01 v2
摘要
近期有观点提出，电子 Mach-Zehnder 干涉仪的可见度中可能出现一种新型相变。在此，我们提供了该相变存在的实验证据。该跃迁是由源于量子点接触与干涉仪强耦合的强非高斯噪声诱发的。通过利用与粒子物理中中微子振荡的紧密类比，我们对该效应提供了清晰的物理图像。此外，我们的实验构成了对量子点接触难以捉摸的全计数统计（full counting statistics）奇异性的探测。
引用
@article{arxiv.1211.5951,
title = {Counting Statistics and Dephasing Transition in an Electronic Mach-Zehnder Interferometer},
author = {A. Helzel and L. V. Litvin and I. P. Levkivskyi and E. V. Sukhorukov and W. Wegscheider and C. Strunk},
journal= {arXiv preprint arXiv:1211.5951},
year = {2015}
}
备注
7 pages, 4 figures (+Supplement 8 pages, 9 figures)