欧姆接触引起的马赫-曾德尔干涉仪退相干

我们研究基于量子霍尔(QH)边缘态的电子马赫-曾德尔(MZ)干涉仪中,由嵌入其一条臂中的微米尺寸欧姆接触引起的退相干。我们发现,在填充因子 $\nu=1$ 时,以及当欧姆接触通过仅透射一个电子通道的量子点接触(QPC)连接到 MZ 干涉仪的情形下,相位相干可能不会被完全抑制。即,若电压偏置 $\Delta \mu$ 和温度 $T$ 相比于欧姆接触的充电能量 $E_C$ 较小,则呈现自由费米子图像,且可见度饱和于其最大值。在大偏置 $\Delta \mu \gg E_C$ 下,可见度以幂律方式衰减。