填充因子为 2 时电子 Mach-Zehnder 干涉仪中的退相干
介观与纳米尺度物理
2009-11-13 v1
摘要
我们提出了一个简单的物理模型，用于描述填充因子为 2 时电子 Mach-Zehnder 干涉仪中的退相干现象。该模型解释了非常近期的实验结果，例如 Aharonov-Bohm 振荡可见度中异常的瓣状结构、相位刚性，以及可见度随量子点接触透射率变化的不对称性。根据我们的模型，干涉仪中的退相干源于二维电子气边缘的强库仑相互作用。这种相互作用的长程特性导致边缘激发谱分离为慢模和快模。这些模式由电子隧穿激发并带走相位信息。与慢模相关的新能标决定了可见度的温度依赖性及其随电压偏置振荡的周期。此外，不同实验间瓣状结构的变化可通过特定的充电效应来解释，这些效应在所有实验中各不相同。我们建议使用一种强不对称的 Mach-Zehnder 干涉仪（其中一臂远短于另一臂）来进行量子霍尔边缘态的光谱学研究。
引用
@article{arxiv.0801.2338,
title = {Dephasing in the electronic Mach-Zehnder interferometer at filling factor 2},
author = {Ivan P. Levkivskyi and Eugene V. Sukhorukov},
journal= {arXiv preprint arXiv:0801.2338},
year = {2009}
}
备注
14 pages, 11 figures