电子马赫-曾德尔干涉仪：探测分数统计的工具
介观与纳米尺度物理
2009-11-11 v5
摘要
我们研究了最近在魏茨曼研究所设计的电子马赫-曾德尔干涉仪中的输运。我们表明该器件可用于探测分数量子霍尔区域中准粒子的统计。我们计算了通过干涉仪的隧穿电流作为阿哈罗诺夫-玻姆磁通、温度和电压偏压的函数，并证明了其磁通依赖分量对隧穿准粒子的统计非常敏感。更具体地说，电流的磁通依赖和磁通无关贡献通过幂律相关联，其指数是准粒子统计的函数。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0506302,
title = {Electronic Mach-Zehnder interferometer as a tool to probe fractional statistics},
author = {K. T. Law and D. E. Feldman and Yuval Gefen},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0506302},
year = {2009}
}
备注
22 pages; 8 figures