中文

Chern 带绝缘体中的手性拓扑激子

介观与纳米尺度物理 2017-10-11 v2

摘要

一类被称为 Chern 带绝缘体的半导体被证明拥有具有非零拓扑 Chern 整数和手性激子边缘模的激子带。利用一个典型的双带 Chern 绝缘体模型,我们计算了互相关函数以获得激子带及其 Chern 整数。在电子 Chern 绝缘体相中,最低激子带获得诸如 ±1\pm 1±2\pm 2 的 Chern 整数。非平凡拓扑既可以通过激子边缘模的非局域光电响应,也可以通过体模引起的互相关响应中的相移在实验上观测到。我们的结果表明,磁性掺杂的 HgTe、InAs/GaSb 量子阱以及 (Bi,Sb)2Te3\text{(Bi,Sb)}_{2} \text{Te}_{3} 薄膜是拓扑激子学平台的有前途候选者。

关键词

引用

@article{arxiv.1707.03136,
  title  = {Chiral Topological Excitons in a Chern Band Insulator},
  author = {Ke Chen and Ryuichi Shindou},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1707.03136},
  year   = {2017}
}

备注

5+ pages, 3 figures with supplemental materials