基于聚焦 X 射线束和实验室测试表征新型铍锌垫探测器
仪器与探测器
2025-10-16 v3 高能物理 - 实验
摘要
未来的高能物理实验中的跟踪系统将需要大尺寸的探测器且辐射长度较小。晶体硅传感器已用于跟踪系统数十年，但难以大面积制造且成本高昂。我们正在探索适用于薄膜器件快速制造技术的替代传感器材料。铍锌垫探测器在阿尔伯克国家实验室使用商业可得的 InP:Fe 2 英寸单晶衬底制造。对电压-电流和电容-电压进行特征表征，以研究传感器的基本运行特性。使用加拿大光源和钻石光源的微聚焦 X 射线束研究对离子化辐射的响应，并表征多个器件的响应均匀性。结果显示在我们的评估中，器件在内部和外部都表现出高度一致性。这进一步推动了针对未来跟踪探测器的薄膜器件的进一步研究。
引用
@article{arxiv.2405.18794,
title = {Characterizing Novel Indium Phosphide Pad Detectors with Focused X-ray Beams and Laboratory Tests},
author = {Earl Almazan and Anthony Affolder and Ian Dyckes and Vitaliy Fadeyev and Michael Hance and Manoj Jadhav and Sungjoon Kim and Thomas McCoy and Jessica Metcalfe and Jason Nielsen and Jennifer Ott and Luise Poley and Taylor Shin and Dennis Sperlich and Anirudha V. Sumant},
journal= {arXiv preprint arXiv:2405.18794},
year = {2025}
}
备注
30 pages, 27 figures