薄膜在带电粒子径迹探测器中的应用潜力

J. Metcalfe; I. Mejia; J. Murphy; M. Quevedo; L. Smith; J. Alvarado; B. Gnade; H. Takai

薄膜在带电粒子径迹探测器中的应用潜力

仪器与探测器 2014-11-10 v1 高能物理 - 实验

作者: J. Metcalfe , I. Mejia , J. Murphy , M. Quevedo , L. Smith , J. Alvarado , B. Gnade , H. Takai

摘要

薄膜技术在日常电子设备中有着广泛的应用， notably 液晶显示屏、太阳能电池和有机发光二极管。我们探讨了该技术作为带电粒子辐射径迹探测器在高能物理实验（如大型强子对撞机或相对论重离子对撞机中的实验）中的应用潜力。通过现代制造技术，可利用多种半导体材料构建具有集成电子器件的薄而灵活的探测器，其像素尺寸在几微米量级。我们回顾了有前景候选材料的材料特性，讨论了与该技术相关的潜在优势和挑战，并回顾了此前作为中子探测器 demonstrated 的适用性。

关键词

薄膜技术带电粒子径迹探测器高能物理半导体材料柔性探测器中子探测器

引用

@article{arxiv.1411.1794,
  title  = {Potential of Thin Films for use in Charged Particle Tracking Detectors},
  author = {J. Metcalfe and I. Mejia and J. Murphy and M. Quevedo and L. Smith and J. Alvarado and B. Gnade and H. Takai},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1411.1794},
  year   = {2014}
}

备注

9 pages, 3 figures, 3 tables

薄膜在带电粒子径迹探测器中的应用潜力

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