电双层栅控少层石墨烯中的载流子迁移率与散射寿命
介观与纳米尺度物理
2017-01-11 v1 材料科学
摘要
我们在机械剥离的少层石墨烯上制备了电双层场效应晶体管（EDL-FET）器件。我们利用聚合物电解质的大电容，研究三层、四层和五层样品在聚合物玻璃化转变温度上下、大诱导表面电荷密度下的输运性质。我们发现载流子迁移率在空穴和电子掺杂区间表现出强烈的不对称性。随后，我们采用第一性原理密度泛函理论（DFT）计算从实验数据确定平均散射寿命。我们根据实验中使用的电解质的特定性质解释了其对载流子密度的特殊依赖关系。
引用
@article{arxiv.1701.02701,
title = {Carrier mobility and scattering lifetime in electric double-layer gated few-layer graphene},
author = {E. Piatti and S. Galasso and M. Tortello and J. R. Nair and C. Gerbaldi and D. Daghero and M. Bruna and S. Borini and R. S. Gonnelli},
journal= {arXiv preprint arXiv:1701.02701},
year = {2017}
}
备注
6 pages, 3 figures