双层石墨烯中的玻尔兹曼输运与剩余电导率

本文利用 Drude-Boltzmann 理论计算双层石墨烯的输运性质。我们发现，对于石墨烯实验中可获得的典型载流子密度，主要的散射机制是表现为短程散射体的过屏蔽库仑杂质。我们预期电导率 $\sigma(n)$ 在高密度下与 $n$ 呈线性关系，而在低密度下出现平台，对应于剩余密度 $n^* = \sqrt{n_{\rm imp} {\tilde n}}$，其中 ${\tilde n}$ 是一个常数，我们利用自洽 Thomas-Fermi 屏蔽近似估算其值为 ${\tilde n} \approx 0.01 ~q_{\rm TF}^2 \approx 140 \times 10^{10} {\rm cm}^{-2}$。我们推导了电导率随带电杂质密度变化的解析结果，并讨论了双层石墨烯电导率的温度依赖性。