无自吸收效应的体敏感X射线吸收光谱
强关联电子
2015-03-13 v2 材料科学
摘要
我们展示了一种新的X射线吸收光谱（XAS）方法，该方法像传统的荧光产额测量一样具有体敏感性，但不受自吸收或饱和效应的影响。这种XAS测量是通过扫描入射光子能量穿过吸收边，并使用能量敏感光子探测器测量部分荧光产额（PFY）来实现的。从PFY中选择来自任何元素或核心空穴激发的X射线发射，这些激发不与所研究的吸收边共振。我们发现，该PFY光谱的倒数（我们称之为逆部分荧光产额（IPFY））与X射线吸收截面呈线性关系，无需因饱和或自吸收效应进行任何校正。我们通过测量高温铜氧化物LNSCO的Cu L和Nd M吸收边的O K PFY，并比较总电子产额、总荧光产额和IPFY光谱，展示了这一技术。
引用
@article{arxiv.1001.1925,
title = {Bulk sensitive x-ray absorption spectroscopy free of self-absorption effects},
author = {A. J. Achkar and T. Z. Regier and H. Wadati and Y. -J. Kim and H. Zhang and D. G. Hawthorn},
journal= {arXiv preprint arXiv:1001.1925},
year = {2015}
}
备注
4 pages, 2 figures