X射线自由电子激光器上的单发X射线吸收光谱
仪器与探测器
2020-05-05 v1 材料科学
摘要
X射线吸收光谱（XAS）是一种广泛使用的X射线诊断方法。尽管同步辐射光源拥有庞大的XAS用户群体，但其在X射线自由电子激光器（XFEL）设施上的应用却相当有限。乍看之下，XFEL源相对较窄的带宽和高度波动的光谱结构似乎阻碍了在不累积多次发次的情况下进行高质量的XAS测量。在此，我们首次展示了在XFEL上采集单发XAS光谱，其误差棒仅为百分之几，能量范围覆盖数十电子伏特。我们展示了如何通过拼接数十次单发测量，将该技术扩展到更宽的光谱范围，以实现扩展X射线吸收精细结构（EXAFS）测量。这些结果为未来的飞秒时间分辨XAS研究，特别是对于可在低重复频率下启动的瞬态过程，开辟了无可争议的前景。
引用
@article{arxiv.2005.01572,
title = {Single-shot X-ray Absorption Spectroscopy at X-ray Free Electron Lasers},
author = {M. Harmand and M. Cammarata and M. Chollet and A. G Krygier and H. T. Lemke and D. Zhu},
journal= {arXiv preprint arXiv:2005.01572},
year = {2020}
}
备注
11 pages, 5 figures