同时进行表面等离子体共振与 X 射线吸收光谱测量
仪器与探测器
2015-06-04 v3 光学
摘要
我们在此提出了一种实验装置，可在同步辐射光束线中同时进行表面等离子体共振 (SPR) 和 X 射线吸收光谱 (XAS) 测量。该系统允许原位、实时地测量 X 射线辐照对 SPR 曲线的影响，以探索 X 射线与物质的相互作用。还可以在激发 SPR 的同时记录 XAS 谱，以检测由表面等离子体激发引起的薄膜电子构型的变化。可以进行在扫描不同参数的同时同步记录 SPR 和 XAS 曲线的联合实验。根据具体实验的不同，该装置可检测到的 SPR 和 XAS 谱的相对变化范围为 10-3 至 10-5。
引用
@article{arxiv.1204.4276,
title = {Simultaneous Surface Plasmon Resonance and X-ray Absorption Spectroscopy},
author = {A. Serrano and O. Rodríguez de la Fuente and V. Collado and J. Rubio-Zuazo and C. Monton and G. Castro and M. A. García},
journal= {arXiv preprint arXiv:1204.4276},
year = {2015}
}