一种近边 X 射线吸收精细结构的新测量方法：线偏振的连续 2$\pi$ 角旋转
仪器与探测器
2021-11-10 v1 材料科学
摘要
我们开发了一种用于近边 X 射线吸收精细结构（NEXAFS）软 X 射线光谱学的新技术方法。测量使用由分段波荡器产生的在 2 上连续旋转的线偏振光进行。利用二维薄膜成功演示了旋转 NEXAFS 实验，显示出分子轨道强度的详细偏振依赖性。本方法提供了与纳米空间及 条件下的前沿实验兼容的多种技术机会。
引用
@article{arxiv.2103.13554,
title = {A novel measurement approach for near-edge x-ray absorption fine structure: continuous 2$\pi$ angular rotation of linear polarization},
author = {Yoshiki Kudo and Yasuyuki Hirata and Masafumi Horio and Masahito Niibe and Iwao Matsuda},
journal= {arXiv preprint arXiv:2103.13554},
year = {2021}
}