用于 X 射线光谱分析表面吸附行为的原位气体池
应用物理
2022-04-14 v1
摘要
我们开发了一种气体池，用于通过 X 射线荧光（XRF）与 X 射线吸收精细结构（XAFS）光谱原位测量挥发性有机化合物（VOCs）及其在不同表面的吸附行为。该池特别设计用于高效激发与探测低原子序数元素（如作为 VOCs 主要成分的碳、氧或氮）。提供两种测量模式。在表面模式下，可利用 XAFS 在小角度入射的荧光探测下研究表面吸附。透射模式可通过 XAFS 的透射与荧光探测同时研究气态样品。原理验证实验在 BESSY II 同步辐射设施的 PTB 平面光栅单色器软 X 射线束线上进行。以丰度最高的 VOCs 之一乙醇（EtOH）为对象的研究展示了该池的灵活设计与高通用性。气相中透射与荧光探测的近边 X 射线吸收精细结构（NEXAFS）谱与 Si 晶片表面吸附分子在 C 和 O-K 吸收边的测量对比，证明了该池监测吸附过程的适用性。
引用
@article{arxiv.2204.06246,
title = {In situ gas cell for the analysis of adsorption behavior on surfaces using x-ray spectroscopy},
author = {Cornelia Streeck and Daniel Grötzsch and Jan Weser and Andreas Nutsch and Wolfgang Malzer and Burkhard Beckhoff and Birgit Kanngießer and Ioanna Mantouvalou},
journal= {arXiv preprint arXiv:2204.06246},
year = {2022}
}