在先进光子源利用TES进行硬X射线荧光测量
仪器与探测器
2020-08-26 v1 超导电性
摘要
用于硬X射线束线科学的Transition Edge Sensor（TES）谱仪将在信息丰富的2至20 keV能量范围内实现改进的X射线发射与吸收光谱。我们正在为先进光子源（APS）同步辐射装置建造基于TES的仪器，以供束线用户使用。近期已制备并测试了24像素原型阵列。使用这些阵列的首批光谱测量前景良好，最佳单像素能量分辨率为11.2 eV，饱和能量>20 keV。我们展示了一系列近期涉及过渡金属元素及发射线紧密相邻的多元素样品的X射线荧光测量，特别是Cu-Ni-Co薄膜以及Cu和Hf箔片。将TES测量的谱与APS束线上硅漂移探测器测量的谱直接比较，展示了TES谱仪所实现的改进X射线科学。
引用
@article{arxiv.1909.05919,
title = {Hard X-ray Fluorescence measurements with TESs at the Advanced Photon Source},
author = {Tejas Guruswamy and Lisa M. Gades and Antonino Miceli and Umeshkumar M. Patel and John T. Weizeorick and Orlando Quaranta},
journal= {arXiv preprint arXiv:1909.05919},
year = {2020}
}
备注
10 pages, 6 figures. Presented at 14th European Conference on Applied Superconductivity. (Glasgow, UK, 2019)