用于 X 射线能谱学的高宽比过渡边传感器
天体物理仪器与方法
2021-07-21 v1 仪器与探测器
摘要
我们正在为下一代 X 射线空间天文台开发结合 FDM 读出的大型 TES 阵列。为了在交流偏置下工作，TES 必须经过精心设计与优化。特别是，使用高宽比器件有助于缓解由弱连接效应引起的非理想行为。本文中，我们展示了一个包含五种不同的器件几何结构、宽长比从 1:2 到 1:6 的 TES 阵列的全面表征。在所有偏置配置下测量了各几何结构的复阻抗，以研究小信号极限超导转变参数及过剩噪声的演化。我们表明，具有适当调谐临界温度（约 90 mK）的高宽比器件可实现优异的能量分辨率，阵列平均为 2.03 ± 0.17 eV（5.9 keV 处），最佳分辨率为 1.63 ± 0.17 eV。这表明交流偏置 TES 可取得与直流偏置 TES 极具竞争力的性能。该结果推动了当前正在开发的更极端器件几何结构的研究。
引用
@article{arxiv.2107.09525,
title = {High Aspect Ratio Transition Edge Sensors for X-ray Spectrometry},
author = {M. de Wit and L. Gottardi and E. Taralli and K. Nagayoshi and M. L. Ridder and H. Akamatsu and M. P. Bruijn and M. D'Andrea and J. van der Kuur and K. Ravensberg and D. Vaccaro and S. Visser and J. R. Gao and J. -W. A. den Herder},
journal= {arXiv preprint arXiv:2107.09525},
year = {2021}
}
备注
11 pages, 10 figures