用于X射线探测的带Au/Bi吸收体的Ti/Au TES的AC/DC表征
仪器与探测器
2021-02-19 v1
摘要
过渡边传感器（TES）在用于探测不同波长的微热量计中用作极高灵敏度的温度计。特别是对于软X射线天体物理，科学目标需要非常高分辨率的微热量计，这可通过与合适吸收体耦合的TES实现。对于许多应用，还需要大量像素，这通常要求在读出级进行复用。频域复用（FDM）是一种常见方案，也是为ATHENA任务提出的基线。FDM需要在MHz频率下以AC偏置TES。最近有报道称，相对于DC偏置，AC偏置下性能出现退化。为评估将与FDM配合使用的TES的性能，比较同一器件在AC与DC偏置下的表现因而极具意义。这需要两套不同的测量装置及不同的表征流程。我们在本工作中报道了在 different 设施中对一个TiAu TES先施以AC、后施以DC偏置的单像素表征初步结果。提取的动力学参数与噪声性能在两种情况下进行了比较，作为这些器件进一步AC/DC比较的第一阶段。
引用
@article{arxiv.2102.09421,
title = {AC/DC characterization of a Ti/Au TES with Au/Bi absorber for X-ray detection},
author = {E. Taralli and C. Pobes and P. Khosropanah and L. Fabrega and A. Camon and L. Gottardi and K. Nagayoshi and M. Ridder and M. Bruijn and J. R. Gao},
journal= {arXiv preprint arXiv:2102.09421},
year = {2021}
}