用于粒子诱导X射线发射测量的过渡边缘传感器
仪器与探测器
2015-06-17 v1 加速器物理
摘要
在本文中，我们介绍了一种新的测量装置，其中使用过渡边缘传感器探测器阵列来检测2 MeV质子束粒子诱导X射线发射测量中的X射线。与传统的硅或锗探测器相比，过渡边缘传感器在能量分辨率上提供了数量级的改进，使得在材料分析中能够识别以前无法分辨的谱线，并获取元素的化学信息。我们的传感器通过无制冷剂绝热去磁制冷机冷却至工作温度（65 mK），该制冷机配备了一个专门设计的X射线鼻锥，其具有真空密封窗口以耦合辐射。对于最佳像素，测得的仪器能量分辨率在5.9 keV处为3.06 eV半高全宽。我们讨论了项目的当前状态、过渡边缘传感器在粒子诱导X射线发射光谱学中的优势以及首次测量的结果。
引用
@article{arxiv.1310.1733,
title = {Transition-Edge Sensors for Particle Induced X-ray Emission Measurements},
author = {M. R. J. Palosaari and K. M. Kinnunen and J. Julin and M. Laitinen and M. Napari and T. Sajavaara and W. B. Doriese and J. Fowler and C. Reintsema and D. Swetz and D. Schmidt and J. Ullom and I. J. Maasilta},
journal= {arXiv preprint arXiv:1310.1733},
year = {2015}
}
备注
6 pages, 3 figure, LTD-15 proceedings