在 $\alpha$-RuCl$_{3}$ 上异质外延生长的 Bi$_{2}$Se$_{3}$ 薄膜
材料科学
2020-12-01 v1
摘要
将各种二维材料组合成新型范德瓦耳斯(vdW)异质结构已被证明可产生新的涌现量子系统。由 vdW 拓扑绝缘体(TI,如 BiSe)与量子自旋液体(QSL,如 -RuCl)组成的新型异质结构因 TI 表面态中的手性狄拉克电子可能与 QSL 中分数化费米子自旋激发强耦合而备受关注。我们报道了在 -RuCl 上异质外延生长 BiSe 薄膜,并表征了其结构与电学性质。通过分子束外延生长出具有原子级平滑均匀表面的 BiSe 薄膜。该异质结构呈现出优先的外延关系,对应于 BiSe-RuCl 公度超晶胞,周期为 1.2 nm。尽管晶格失配高达 60%,超晶格的形成归因于范德瓦耳斯异质外延。作为温度函数的磁输运测量表明,生长在 -RuCl 上的 BiSe 薄膜为重度 型掺杂, ~10 cm,低温下迁移率 ~450 cm V s。
引用
@article{arxiv.2010.16349,
title = {Bi$_{2}$Se$_{3}$ thin films heteroepitaxially grown on $\alpha$-RuCl$_{3}$},
author = {Joon Young Park and Janghyun Jo and Jennifer A. Sears and Young-June Kim and Miyoung Kim and Philip Kim and Gyu-Chul Yi},
journal= {arXiv preprint arXiv:2010.16349},
year = {2020}
}
备注
19 pages, 4 figures; accepted in Physical Review Materials