垂直包裹栅极纳米线的电容-电压测量分析
其他凝聚态物理
2008-09-23 v1
摘要
分析了垂直包裹栅极InAs纳米线阵列的电容。借助泊松-薛定谔求解器，可以直接获得掺杂密度的信息。测量到的电容-电压特性中的其他特征可归因于表面态的存在以及纳米线中电子和空穴的共存。针对这两种情况，提供了定量估计。此外，结果表明实际电容与几何极限之间的差异相当大，并且强烈依赖于纳米线材料。
引用
@article{arxiv.0808.2924,
title = {Analyzing capacitance-voltage measurements of vertical wrapped-gated nanowires},
author = {O. Karlström and A. Wacker and K. Nilsson and G. Astromskas and S. Roddaro and L. Samuelson and L. -E. Wernersson},
journal= {arXiv preprint arXiv:0808.2924},
year = {2008}
}
备注
15 pages, 6 Figures included, to appear in Nanotechnology