利用低剂量扫描透射电子显微成像与最大似然重建分析石墨烯中的点缺陷
介观与纳米尺度物理
2018-05-07 v1
摘要
悬浮石墨烯在低电子能量下对电子辐照表现出出色的耐受性。然而，石墨烯中的点缺陷会受到束流驱动动力学的影响。这意味着通常需要高电子辐照剂量才能获得的高分辨率点缺陷显微图像可能并不代表本征缺陷群体。在此，我们通过极低剂量成像并随后利用最大似然算法对频繁出现的缺陷进行重建，捕获了在电子辐照下通过弹出碳原子所形成的初始缺陷。
引用
@article{arxiv.1805.01712,
title = {Analysis of point defects in graphene using low dose scanning transmission electron microscopy imaging and maximum likelihood reconstruction},
author = {Christian Kramberger and Andreas Mittelberger and Christoph Hofer and Jannik C. Meyer},
journal= {arXiv preprint arXiv:1805.01712},
year = {2018}
}
备注
9 pages 5 figures