一种用于预测 FeFET 缩放趋势与耐久性的存储窗口表达式
应用物理
2020-05-15 v2
摘要
基于铁电晶体管（FeFETs）的非易失性存储器的商业化因缩放、保持与耐久性问题而迟迟未能实现。因此，开发准确的表征工具以量化 FeFETs 的缩放与可靠性极限十分重要。在本工作中，我们提出利用存储窗口（MW，即由极化翻转引起的阈值电压之差）的解析表达式作为工具以：i）识别 MW 与铁电材料无关的普适缩放行为；ii）预测耐久性并解释其对写入条件的弱依赖性；iii）为 MW 低于理论极限提供另一种解释；并基于此，iv）设计在给定铁电厚度下最大化 MW 的策略。根据这些发现，MW 的表征与分析将使得基于新兴铁电材料的下一代 FeFET 的系统比较成为可能。
引用
@article{arxiv.2003.12743,
title = {A Memory Window Expression to Predict the Scaling Trends and Endurance of FeFETs},
author = {Nicoló Zagni and Paolo Pavan and Muhammad Ashraful Alam},
journal= {arXiv preprint arXiv:2003.12743},
year = {2020}
}
备注
9 pages, 9 figures