完全正性偏离的层次结构与最优纠缠探测器
量子物理
2026-01-06 v2 泛函分析
摘要
我们引入了 \emph{CP距离} 来量化 Hermitian 线性映射偏离完全正性的程度，其定义为将映射完全正性所需的最小去极化噪声。我们推导了该距离的闭式谱公式，并扩展框架至对任意完全正性映射的 \emph方向性鲁棒性}，建立了稳定性和张量积性质。进一步扩展至 -正性映射的中间锥体，我们引入了偏离的层次结构 。我们基于纠缠深度推导出 的谱公式，并证明其作为认证 Schmidt 数的最优阈值，允许通用构建尺寸敏感的纠缠探测器。
引用
@article{arxiv.2506.03773,
title = {A Hierarchy of Deviation from Complete Positivity and Optimal Entanglement Witnesses},
author = {Mohsen Kian},
journal= {arXiv preprint arXiv:2506.03773},
year = {2026}
}