利用光谱学直接比较 CVD 生长与机械剥离的 MoS$_2$
材料科学
2014-05-28 v3 介观与纳米尺度物理
摘要
MoS是一个极具吸引力的材料体系，其表现出从块体晶体的间接带隙到单层的直接带隙的交叉转变。在此，我们对通过化学气相沉积（CVD）生长的大面积 MoS薄膜与从天然块体晶体经机械剥离制备的 MoS薄片进行了直接比较。拉曼光谱测量显示了 CVD 生长与剥离的 MoS在面内和面外声子模位置上的差异。光致发光（PL）映射揭示了 CVD 生长薄膜中存在大片区域在室温下发射强 PL，而低温 PL 扫描表明 A 激子发射随位置变化出现大幅光谱移动。近共振激发条件下的偏振分辨 PL 测量显示了强烈的圆偏振 PL，对应于谷极化。
引用
@article{arxiv.1310.8470,
title = {A direct comparison of CVD-grown and exfoliated MoS2 using optical spectroscopy},
author = {G. Plechinger and J. Mann and E. Preciado and D. Barroso and A. Nguyen and J. Eroms and C. Schüller and L. Bartels and T. Korn},
journal= {arXiv preprint arXiv:1310.8470},
year = {2014}
}