锂系镧系 M5 共振处的 X 射线散射：用于磁学深度轮廓分析
其他凝聚态物理
2007-05-23 v1
摘要
对镝和�铁金属薄膜在 M5 共振处的 X 射线散射进行定量分析，得到光学常数和磁性散射长度 f_m，其中 f_m 可达 200 r_0。观察到一阶和二阶磁卫星信号，使可以将 f_m 分离为圆极化和线极化贡献。这种高磁灵敏度结合可调的 X 射线探测深度，可用于监测复杂磁学结构的深度轮廓，如�铁金属薄膜中螺旋反磁域的结构。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0509725,
title = {X-Ray Scattering at Lanthanide M5 Resonances: Application to Magnetic Depth Profiling},
author = {H. Ott and C. Schuessler-Langeheine and E. Schierle and A. Yu. Grigoriev and V. Leiner and H. Zabel and G. Kaindl and E. Weschke},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0509725},
year = {2007}
}
备注
4 pages, 4 figures