透射几何下线性偏振 X 射线磁散射 CoPt 薄膜的线形分析
其他凝聚态物理
2007-05-23 v1
摘要
对透射几何下线偏振 X 射线磁共振散射的 CCD 文件进行数据分析，得出了关于径向和方位角强度的信息。在一系列光子能量递增的测量中，分析了数据中的趋势。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0404371,
title = {Line Shape Analysis of Linear X Ray Magnetic Scattering CoPt Thin Films},
author = {E. V. R. Chan},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0404371},
year = {2007}
}