用于同步辐射光源的主动边缘像素传感器阵列的X射线计量
仪器与探测器
2016-12-22 v1 高能物理 - 实验
摘要
我们报告了作为大阵列原型的主动边缘硅传感器阵列的制备。四个Medipix3RX.1芯片凸点键合到四个单芯片尺寸的Advacam主动边缘n-on-n传感器上。然后这些探测器被安装成2×2阵列，并在Diamond Light Source的B16光束线上用2um的X射线束斑进行测试。这些测试结果与光学计量相比，使人相信这些传感器对传感器的物理边缘敏感，仅在最后两行像素中效率有适度损失。我们展示了用微聚焦光束记录的效率图和样品粉末衍射测量。这些结果使人相信该传感器技术可用于同步辐射光源的更大探测器阵列中。
引用
@article{arxiv.1612.07069,
title = {X-ray Metrology of an Array of Active Edge Pixel Sensors for Use at Synchrotron Light Sources},
author = {R. Plackett and K. Arndt and D. Bortoletto and I. Horswell and G. Lockwood and I. Shipsey and N. Tartoni and S. Williams},
journal= {arXiv preprint arXiv:1612.07069},
year = {2016}
}
备注
11 pages, 12 figures