支持 FeSe 与 Fe$_7$Se$_8$ 外延薄膜物相鉴别的 X 射线衍射分析
材料科学
2019-01-29 v1
摘要
本文给出通过脉冲激光沉积（PLD）生长的外延硒化铁薄膜的 X 射线衍射（XRD）数据与分析。薄膜包含 -FeSe 与 FeSe 相，以双外延构型分布于 -FeSe 相（001）取向生长在（001）MgO 衬底上。在特定生长条件下，FeSe 同时呈现两种不同外延取向，即（101）与（001）取向。这些取向均经所给 XRD 数据验证。此外，还展示了用于确定 PLD 靶材成分以及 -FeSe 相镶嵌结构的 XRD 数据。
引用
@article{arxiv.1901.09794,
title = {X-ray diffraction analysis to support phase identification in FeSe and Fe$_7$Se$_8$ epitaxial thin films},
author = {Sumner B. Harris and Renato P. Camata},
journal= {arXiv preprint arXiv:1901.09794},
year = {2019}
}