将 XPS 能带对齐测量流程转化为可靠的从头算计算方法
材料科学
2017-04-17 v1 介观与纳米尺度物理
摘要
固体间的能带对齐是凝聚态物理和电子器件中的关键问题。尽管 XPS 方法已被用作确定能带对齐的常规方法，但照搬 XPS 能带对齐流程的理论计算通常无法与测量结果吻合。本工作提出一种可靠的能带对齐从头算方法，其基于 XPS 流程并考虑表面极性和晶格变形。将我们的方法应用于锐钛矿和金红石相 TiO2 显示出计算与实验的良好一致。此外，我们的方法能产生两类能带对齐：耦合的与本征的，取决于是否涉及固/固界面效应。耦合与本征能带对齐分别对应于由 XPS 和电化学阻抗分析测量的对齐，解释了为何这两种实验报道的能带对齐相当不一致。
引用
@article{arxiv.1703.10327,
title = {Translating XPS Measurement Procedure for Band Alignment into Reliable Ab-initio Calculation Method},
author = {Daoyu Zhang and Minnan Yang and Huimin Gao and Shuai Dong},
journal= {arXiv preprint arXiv:1703.10327},
year = {2017}
}