非厄米特晶格中的拓扑与分形缺陷态
介观与纳米尺度物理
2026-03-16 v2
摘要
高维系统因其边界与缺陷的丰富几何特征，为多样化的拓扑相及其相关局域化现象提供了肥沃的土壤。本文研究具有缺陷的非厄米晶格，建立了谱缠绕拓扑、分形结构与缺陷局域化态之间的对应关系。通过解析推导与数值模拟，我们展示，仅当谱缠绕数超过由缺陷尺寸决定的阈值时，缺陷态才会出现，这与其分形特性密切相关。运用格林函数，我们识别出外部驱动场下缺陷处的放大响应，强化了这些拓扑与分形特征之间的物理对应关系。我们的发现为理解高维非厄米系统中的缺陷局域化态提供了通用框架。
引用
@article{arxiv.2407.10069,
title = {Topological and fractal defect states in non-Hermitian lattices},
author = {Gan Liang and Linhu Li},
journal= {arXiv preprint arXiv:2407.10069},
year = {2026}
}
备注
23 pages and 10 figures. Extensively revised version