基于金属玻璃薄膜的透射电子显微镜相位板
材料科学
2016-11-23 v1
摘要
基于薄膜的相位板目前是增强透射电子显微镜（TEM）中弱相位物体对比度的一种广泛使用的工具。该薄膜通常由非晶碳构成，其在强电子束照射下易快速退化。近期研究集中于寻找具有更高材料稳定性的替代材料。本工作提出由金属玻璃合金制成的薄膜基相位板，其具有高电导率和非晶结构。制备了锆基合金 Zr65.0Al7.5Cu27.5（ZAC）的薄膜，并测试了其相移特性。通过不同 TEM 技术对 ZAC 合金薄膜进行了研究，揭示了一系列有益特性。尤其有利的是非弹性等离子体散射的小概率，这有望改善相衬 TEM 中薄膜基相位板的性能。
引用
@article{arxiv.1510.03587,
title = {Thin-film based phase plates for transmission electron microscopy fabricated from metallic glasses},
author = {M. Dries and S. Hettler and T. Schulze and W. Send and E. Müller and R. Schneider and D. Gerthsen and Y. Luo and K. Samwer},
journal= {arXiv preprint arXiv:1510.03587},
year = {2016}
}