准晶 Ti-Zr-Ni 薄膜的横向生长微结构
材料科学
2020-10-26 v1
摘要
采用 Nd:YAG 激光脉冲激光沉积在玻璃基底上制备了数百纳米厚的准晶 Ti-Zr-Ni 薄膜。研究了沉积温度 Ts 对薄膜沿厚度方向结构、形貌和微结构的影响。通过 X 射线衍射和透射电子显微镜技术评估形貌与微结构特征。发现低沉积温度产生嵌入非晶基质中纳米尺寸晶粒的薄膜。这些晶粒呈现准晶有序。较高沉积温度导致薄膜结构沿生长方向不均匀。与基底接触的层是非常薄的非晶层。薄膜主体由结晶柱组成。这些柱从纳米晶层生长而来，其中结晶尺寸随厚度增加而增大。
引用
@article{arxiv.2010.12366,
title = {Transversal growth microstructures of quasicrystalline Ti-Zr-Ni films},
author = {Valerie Brien and A. Dauscher and P. Weisbecker and J. Ghanbaja and F Machizaud},
journal= {arXiv preprint arXiv:2010.12366},
year = {2020}
}