附着于 SiO2/Si 衬底上的 WSe2 纳米片的热氧化
材料科学
2015-07-16 v1
摘要
由于层内与层间键合强度差异极大，二维材料的力学、热学和电学性质在面内与面外方向之间表现出高度各向异性。这种结构各向异性也可能在氧化、还原和刻蚀等化学反应中发挥作用。本文研究了 SiO2/Si 衬底上机械剥离的 WSe2 纳米片的成分、结构和电学性质随热氧化程度的变化。光学和 Raman 数据表明，氧化的主要部分从纳米片边缘开始，并横向向中心扩展。在纳米片的某些表面区域也会发生部分氧化，微波阻抗显微镜显示这些区域具有高导电性。使用二次离子质谱法，我们还观察到 WSe2/SiO2 界面处存在广泛氧化。因此，多种显微方法的结合能够提供关于二维材料化学反应空间演化以及反应产物纳米级电学性质的重要信息。
引用
@article{arxiv.1507.04048,
title = {Thermal Oxidation of WSe2 Nano-sheets Adhered on SiO2/Si Substrates},
author = {Yingnan Liu and Cheng Tan and Harry Chou and Avinash Nayak and Di Wu and Rudresh Ghosh and Hsiao- Yu Chang and Yufeng Hao and Xiaohan Wang and Joon-Seok Kim and Richard Piner and Rodney S. Ruoff and Deji Akinwande and Keji Lai},
journal= {arXiv preprint arXiv:1507.04048},
year = {2015}
}
备注
To appear in Nano Lett