独立悬挂少层ReS2的面内热导率各向异性
介观与纳米尺度物理
2025-06-12 v1
摘要
二硫化铼（ReS2）是一种具有强面内各向异性和弱层间耦合的独特过渡金属二硫化物。在块体ReS2薄片（厚度超过60 nm）中观测到的热导率显著各向异性使其成为需要方向性热管理或隔离的应用的有价值材料。然而，这种各向异性在10 nm以下是否仍然保持尚未被研究。在此，我们使用光热拉曼技术测量了独立悬挂、剥离的少层ReS2样品（厚度<10 nm）在SiO2/Si多孔基底上的热导率。偏振依赖拉曼测量揭示了沿高对称轴方向热导率的变化。总面内热导率随ReS2厚度在2.5至8 nm范围内呈非单调趋势。少层ReS2器件的面内热导率随厚度变化，在纳米尺度热电器件应用中具有巨大潜力。
引用
@article{arxiv.2506.09500,
title = {Anisotropic In-plane Thermal Conductivity of Freestanding Few-layer ReS2},
author = {Manavendra Pratap Singh and Akshay Naik},
journal= {arXiv preprint arXiv:2506.09500},
year = {2025}
}