KF 型法兰在低颗粒物应用中的使用
加速器物理
2017-01-05 v1
摘要
随着 SCRF 粒子加速器技术的进步，对“低颗粒物”和“无颗粒物”真空系统的需求日益增长。在这些系统的运行过程中，有时需要临时连接各种仪器进行诊断：残余气体分析仪、检漏仪和附加泵。为了使这些仪器的添加更简便、更省时，我们建议将 KF 型法兰用于此类临时诊断连接。本文将描述用于比较广泛接受用于“无颗粒物”场合的 Conflat 法兰与所提议的 KF 型法兰在装配时产生颗粒物的测试，并证明 KF 法兰产生的颗粒物相当甚至更少。
引用
@article{arxiv.1701.00842,
title = {The Use of KF Style Flanges In Low Particulate Applications},
author = {K. R. Kendziora and J. Angelo and C. Baffes and D. Franck and R. Kellett},
journal= {arXiv preprint arXiv:1701.00842},
year = {2017}
}
备注
3 pp