硅基可地面测试相位菲涅尔透镜的研制
光学
2008-11-26 v1 天体物理学
摘要
衍射/折射光学元件，如相位菲涅尔透镜（PFL），在X射线和伽马射线光子波段具有实现优异成像性能的潜力。原则上，使用这些器件获得的角分辨率可以达到衍射极限。此外，由于几乎整个入射到透镜上的通量都可以集中到一个小探测器区域上，因此可以实现信号灵敏度的提高。为了实验验证成像性能，我们使用灰度光刻技术在硅中制造了PFL，以产生所需的菲涅尔轮廓。这些器件将在NASA/GSFC最近建造的600米X射线干涉测量测试台上进行评估。已经对制造的PFL中的菲涅尔结构进行了轮廓测量，并用于获得预期的PFL成像效率的初步表征。
引用
@article{arxiv.physics/0601012,
title = {Development of Ground-testable Phase Fresnel Lenses in Silicon},
author = {John Krizmanic and Brian Morgan and Robert Streitmatter and Neil Gehrels and Keith Gendreau and Zaven Arzoumanian and Reza Ghodssi and Gerry Skinner},
journal= {arXiv preprint arXiv:physics/0601012},
year = {2008}
}
备注
Presented at GammaWave05: "Focusing Telescopes in Nuclear Astrophysics", Bonifacio, Corsica, September 2005, to be published in Experimental Astronomy, 8 pages, 3 figures