孔径质量统计量的偏度

我们给出计算弱引力探测中孔径质量统计量偏度和峰度的简单公式，该统计量对探测几何或变变量深度的掩盖不敏感。该计算是Schneider 等人（2002）用于从多个引力探测中计算孔径质量方差公式的更高阶类比。由于我们的公式需要三点剪切相关函数，我们还给出一种高效的基于树的算法用于测量该函数。我们展示了该算法在计算时间和内存使用方面的规模如何适用于未来的探测。最后，我们将该程序应用于CTIO探测数据，该数据最初描述于 Jarvis 等人（2003）。我们发现偏度在数据中为正（与零不相符），显著程度为2个σ。然而，该信号由于数据噪声过大，难以实质性地约束宇宙学参数。