超薄SrTiO3薄膜中软模行为的太赫兹椭偏研究
材料科学
2016-02-17 v2
摘要
我们结合传统的远红外与时域太赫兹椭偏术，研究了在LSAT衬底上通过脉冲激光沉积生长的SrTiO3薄膜（85和8.5 nm）的温度依赖光学响应。我们证明太赫兹椭偏术对这些薄膜的光学响应，特别是SrTiO3的软模，非常敏感。我们显示对于85 nm薄膜，软模的本征频率在1200 C退火后强烈降低，而8.5 nm薄膜几乎不受影响。对于后者，退火后该模在300 K保持在125 cm-1，并仅表现出微弱软化至10 K时约90 cm-1。这表明该超薄薄膜由于LSAT衬底几乎不发生压缩应变的弛豫。
引用
@article{arxiv.1511.04521,
title = {Terahertz ellipsometry study of the soft mode behavior in ultrathin SrTiO3 films},
author = {Premysl Marsik and Kaushik Sen and Jarji Khmaladze and Meghdad Yazdi-Rizi and Benjamin P. P. Mallett and Christian Bernhard},
journal= {arXiv preprint arXiv:1511.04521},
year = {2016}
}
备注
4 pages, 4 figures