同质外延 SrTiO3 薄膜的厚度依赖局域表面电子结构
材料科学
2015-05-18 v1
摘要
我们利用低温扫描隧道显微镜/光谱学 (STM/STS) 结合脉冲激光沉积 (PLD) 技术，研究了 SrTiO3(001) 衬底和同质外延薄膜的原子级分辨表面。研究发现，在 1000 oC 和 1*10-6 Torr 氧分压下退火（这是制备 SrTiO3 衬底的典型退火处理）会意外地导致原子尺度上的无序表面。相比之下，在这种无序衬底上生长的同质外延 SrTiO3 薄膜则表现出 (2*2) 表面重构。STS 测量中的微分电导谱 dI/dV 显示，10 个单胞厚的 SrTiO3 薄膜中存在大量表面缺陷，而 50 个单胞厚的薄膜中则少得多。这些结果表明，薄膜中的缺陷密度强烈依赖于薄膜厚度，暗示沿生长方向的化学计量比不均匀。
引用
@article{arxiv.1004.2746,
title = {Thickness-dependent Local Surface Electronic Structures of Homoepitaxial SrTiO3 Thin Films},
author = {Takeo Ohsawa and Katsuya Iwaya and Ryota Shimizu and Tomihiro Hashizume and Taro Hitosugi},
journal= {arXiv preprint arXiv:1004.2746},
year = {2015}
}
备注
17 pages, 4 figures