压缩应变超薄 SrRuO3 薄膜中的突兀正交晶系弛豫
材料科学
2021-06-21 v1 强关联电子
摘要
晶格结构可决定材料的电子与磁学性质。尤其，表面或异质界面的重构可产生与相应块体材料根本不同的性质。我们利用表面敏感的低能电子衍射与体敏感的扫描透射电子显微镜相结合，研究了外延 SrRuO3 薄膜（厚度达 22 个伪立方晶胞（u.c.））表面及薄膜内的晶格结构。我们的分析表明，与许多钙钛矿氧化物不同，即便在立方 SrTiO3 上的单晶胞 SrRuO3 薄膜中也出现 RuO6 倾斜与旋转畸变，而对于较厚薄膜，从界面起需 3-4 个 u.c. 才完全弛豫为类块体正交结构。然而，与 SrRuO3 薄膜界面附近的衬底 TiO6 八面体未显现任何畸变，不同于其与 CaRuO3 薄膜界面附近的八面体。我们辨识出两个正交的面内旋转结构畴。这些结构畸变对超薄膜中依赖于厚度的输运与磁性本质至关重要。
引用
@article{arxiv.2106.10204,
title = {Abrupt orthorhombic relaxation in compressively strained ultra-thin SrRuO3 films},
author = {Prahald Siwakoti and Zhen Wang and Mohammad Saghayezhian and David Howe and Zeeshan Ali and Yimei Zhu and Jiandi Zhang},
journal= {arXiv preprint arXiv:2106.10204},
year = {2021}
}
备注
12 pages and 5 figures