超薄钡掺杂SrRuO3薄膜中依赖厚度的巡游铁磁性
材料科学
2022-12-26 v1
摘要
ABO3钙钛矿氧化物的电子与磁学性质对晶格结构以及维度（如薄膜形式的厚度）极为敏感。在此，我们报道了在SrTiO3 (001)衬底上外延稳定的超薄Sr1-xBaxRuO3（x = 0.08, 0.2）薄膜的厚度依赖电磁性质。结果表明，钡掺杂（0.08 < x < 0.20）减小了SrRuO3中存在的RuO6正交畸变，并引起四方畸变，其表现为面外晶格膨胀。对于x = 0.08和0.2，随着薄膜厚度从10个原胞（u.c.）减小到3个原胞，均发生金属-绝缘体转变，并伴有铁磁到非磁的转变，与掺杂水平无关。结果表明，通过维度限域引入的成分空位和表面/界面贡献的影响，比A位化学无序或结构畸变更主导超薄外延膜中金属性与铁磁性的丧失。
引用
@article{arxiv.2212.12120,
title = {Thickness Dependent Itinerant Ferromagnetism in Ultrathin Ba-Doped SrRuO3 films},
author = {Zeeshan Ali and Mohammad Saghayezhian and Prahald Siwakoti and Roshan Nepal and Jiandi Zhang},
journal= {arXiv preprint arXiv:2212.12120},
year = {2022}
}