氧化物异质结LaAlO3/SrTiO3中的界面弛豫与静电荷耗尽
材料科学
2015-05-13 v1
摘要
通过密度泛函理论分析，我们深入理解了氧化物异质结LaAlO3/SrTiO3的结构和电子性质。将静电表面效应与内部晶格畸变分离，以阐明它们之间的相互作用。我们首先通过无表面的多层系统研究界面弛豫，然后通过衬底-薄膜系统分别研究表面效应。界面处TiO6八面体的伸长增强了金属性，而薄膜厚度的减小由于电荷耗尽的增加而产生相反的效果。然而，这两种效应的相互作用（如衬底-薄膜系统中完全晶格弛豫所反映的那样）强烈依赖于薄膜厚度。对于厚度小于四个LaAlO3层的薄膜，TiO6畸变模式的反转导致绝缘态。
引用
@article{arxiv.0903.5196,
title = {Interface relaxation and electrostatic charge depletion in the oxide heterostructure LaAlO3/SrTiO3},
author = {U. Schwingenschloegl and C. Schuster},
journal= {arXiv preprint arXiv:0903.5196},
year = {2015}
}
备注
10 pages, 7 figures, accepted by Europhysics Letters