PST 薄膜中的红外软模行为
材料科学
2009-11-11 v1
摘要
我们通过傅里叶变换红外传输光谱研究了载于石英基片上的 sol-gel 薄膜的光子在 20-900\K{} 温度范围内的温度依赖性。研究了四个显示不同 B 位有序且具有铁电和松弛行为的薄膜。在所有情况下,10\K{} 时约 80\icm{} 处的 TO 模态随加热软化至约 45\icm{},遵循 Cochran 定律, extrapolated 临界温度接近 700\K{}(400\K{} 高于介电最大值温度 ),但在 600\K{} 以上其频率保持稳定。可分配给位于 700\K{} 附近 Burns 温度以下形成的极性簇中 A 成分的铁电软模。在有序 PST 薄膜中,另一个模态在 T 以下在红外光谱中约 60\icm{} 处激活,同样表现出异常的温度依赖性,因其与前述模态耦合。可分配给 A 成分的 F 拉伸活性模态。 Burns 温度以下在 THz 范围内出现的中心模,可分配给极性簇的动力学。在冷却时减慢并在 以下消失于我们的光谱范围。另一个在低温约 30\icm{} 处出现的过阻尼激励,可分配给软模的 E 成分。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0504755,
title = {Far-infrared soft mode behavior in PST thin films},
author = {S. Kamba and M. Berta and M. Kempa and J. Petzelt and K. Brinkman and N. Setter},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0504755},
year = {2009}
}
备注
6 pages, 5 figures