薄聚合物薄膜中玻璃态转变的介电和膨胀光谱研究
软凝聚态物质
2007-05-23 v1
摘要
对薄聚苯磺酸薄膜进行介电弛豫和热膨胀光谱，以测量温度T_α（对应于α过程引起的介电损耗谱因子峰值）和α-弛豫时间τ作为薄膜厚度d的函数。虽然玻璃态转变温度T_g随薄膜厚度减小而降低，但T_α和τ在d>d_c时几乎保持不变，而在d<d_c时则急剧下降（在高温下）。此处，d_c为临界厚度。在玻璃态转变温度附近，T_α和τ的厚度依赖性更为显著。讨论了薄膜聚苯磺酸的fragility指数与非指数性之间的关系。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0012464,
title = {Dielectric and Dilatometric Studies of Glass Transitions in Thin Polymer Films},
author = {Koji Fukao and Yoshihisa Miyamoto},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0012464},
year = {2007}
}
备注
4 pages, 5 figures