SrBi₂Ta₂O₉薄膜中高温相变: 太赫兹光谱研究
材料科学
2009-11-10 v1 无序系统与神经网络
摘要
对沙德比钋钽氧化物薄膜进行时域太赫兹传输实验，薄膜 deposited on 橄榄石基板。研究了300至923 K的温度范围，确定了薄膜的复介电常数光谱。最低频率光学声子近28 cm⁻¹显示在加热过程中频率呈缓慢单调下降，且在相变附近无显著异常。我们指出，介电常数在铁电相变附近的异常可由松弛模式减缓所致，而太赫兹光谱中观察到的该松弛模式减缓解释了这一现象。观察到单晶中的第二谐波产生信号，确认了铁电相中中心对称性的丧失，以及中间铁伟莱斯相中极性簇的存在。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0406705,
title = {High-temperature phase transitions in SrBi_2Ta_2O_9 film: a study by THz spectroscopy},
author = {F. Kadlec and S. Kamba and P. Kuzel and C. Kadlec and J. Kroupa and J. Petzelt},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0406705},
year = {2009}
}
备注
subm. to J. Phys.: Condens. Matter