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不同电极金属与层状 GeSe 间电接触势垒的系统性研究

介观与纳米尺度物理 2019-01-11 v1

摘要

对于基于 GeSe 的电子与光电子器件,GeSe 是一种新兴的二维单硫族化物,被预言具有诸多引人注目的性质,良好的电接触对实现高器件性能及探索 GeSe 的本征物理至关重要。本文中,我们利用温度依赖输运测量与热电子发射理论,系统性研究了 GeSe 与六种常见电极金属 Al、Ag、Ti、Au、Pt 和 Pd 之间的接触势垒高度。这些金属覆盖了较宽的功函数范围(约 3.6 eV 至约 5.7 eV)。我们的研究表明,Au 与 GeSe 的价带形成最佳接触,尽管 Au 在所研究金属中并非功函数最高者。该行为明显偏离 Schottky-Mott 理论的预期,表明金属与 GeSe 界面细节的重要性。

关键词

引用

@article{arxiv.1901.03012,
  title  = {Systematic investigation of electrical contact barriers between different electrode metals and layered GeSe},
  author = {Ranran Li and Wei Xia and Yanfeng Guo and Jiamin Xue},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1901.03012},
  year   = {2019}
}

备注

10 pages, 4 figures