拓扑绝缘体的同步辐射研究
强关联电子
2015-06-11 v2 介观与纳米尺度物理
材料科学
摘要
拓扑绝缘体 (TIs) 是最近发现的一类量子材料，目前正引起广泛关注。事实上，拓扑绝缘体最有趣的方面并非它们是体绝缘体，而是其表面支持具有某些特殊性质（其中包括特征自旋纹理）的局域金属态。最重要的是，这些金属态的存在并非表面属性，而是由体能带结构的拓扑性质所要求的。本章通俗地介绍了拓扑绝缘体材料的物理与能带结构，以及利用基于同步辐射的技术（特别是角分辨光电子能谱 (ARPES)）对拓扑绝缘体的研究。
引用
@article{arxiv.1210.2672,
title = {Synchrotron-radiation studies of topological insulators},
author = {Philip Hofmann},
journal= {arXiv preprint arXiv:1210.2672},
year = {2015}
}
备注
23 pages, 14 figures, submitted to Springer Proceedings in Physics (VIth International Mittelwihr School on Magnetism and Synchrotron Radiation)