拓扑绝缘体薄膜中的表面至体散射
强关联电子
2015-01-20 v2 介观与纳米尺度物理
材料科学
摘要
我们提出了一种微观定量理论，用于描述拓扑绝缘体 (TI) 薄膜中由无序和声子诱导的表面态与体态之间的耦合。我们发现表面至体散射矩阵元具有简单的结构，并确认了体 - 表面耦合在输运和光发射实验中的重要性，同时评估了其对温度、载流子密度、薄膜厚度和粒子 - 空穴不对称性的依赖关系。
引用
@article{arxiv.1409.6291,
title = {Surface-to-bulk scattering in topological insulator films},
author = {Kush Saha and Ion Garate},
journal= {arXiv preprint arXiv:1409.6291},
year = {2015}
}
备注
5 pages+appendices, 8 figures