具有非阿贝尔边缘激发的拓扑绝缘体的稳定性
强关联电子
2015-06-22 v2
摘要
非阿贝尔霍尔态的手性 - 反手性对（如 Pfaffian、Read-Rezayi 和 NASS 态）可用于模拟二维时间反演不变拓扑绝缘体。其稳定性已被证明与 Z_2 反常的存在相关，并由为自由费米子和阿贝尔系统引入的相同 Z_2 指数表征。在本工作中，我们通过提供使非阿贝尔边缘激发产生能隙的时间反演不变相互作用形式，继续稳定性分析。我们的方法基于将非阿贝尔态描述为相应“母体”阿贝尔态的投影。
引用
@article{arxiv.1407.0582,
title = {Stability of Topological Insulators with Non-Abelian Edge Excitations},
author = {Andrea Cappelli and Enrico Randellini},
journal= {arXiv preprint arXiv:1407.0582},
year = {2015}
}
备注
33 pages, 1 figure; updated discussion of interactions