利用高光谱成像对单层及少层 MoS2 进行空间分辨的光学吸收光谱研究
介观与纳米尺度物理
2016-03-23 v1 材料科学
摘要
空间分辨原子级薄材料光学性质的可能性尤为引人关注，因为通过降低其厚度、改变掺杂水平或施加机械形变，可以在微米和纳米尺度上调制这些性质。因此，需要具有高空间分辨率的光谱技术来更深入地了解二维材料的性质。在此，我们通过开发一种允许以衍射极限空间分辨率探测光学性质的高光谱成像技术，研究了 1.24 eV 至 3.22 eV（385 nm 至 1000 nm）光谱范围内单层及少层二硫化钼（MoS2）的光学吸收。我们发现高光谱成像非常适合研究间接带隙半导体，而光致发光仅对直接带隙半导体提供高发光产额。此外，这项工作为研究其他二维系统光学性质的空间变化打开了大门，包括无法使用扫描光致发光的非半导体材料。
引用
@article{arxiv.1507.00869,
title = {Spatially resolved optical absorption spectroscopy of single- and few-layer MoS2 by hyperspectral imaging},
author = {Andres Castellanos-Gomez and Jorge Quereda and Herko P. van der Meulen and Nicolás Agraït and Gabino Rubio-Bollinger},
journal= {arXiv preprint arXiv:1507.00869},
year = {2016}
}
备注
Main text: 4 figures. Supporting information: 4 figures